薄膜厚度測量
薄膜輪廓與粗糙度測量
減震消磁系統
薄膜電性測量設備
薄膜力學性能測量
粒度分析儀
水滴角測量
LA-960V2HORIBA 激光粒徑分布分析儀
CN-300HORIBA 離心式納米粒度分析
SZ-100V2HORIBA 納米顆粒分析儀
F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測厚儀
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B系列Bowman XRF高精度鍍層測厚儀
iMicroKLA 納米壓痕儀
iNanoKLA 納米壓痕儀
R54KLA四探針電阻率測量儀
R50KLA 四探針電阻率測量儀
F54-XYT-300Filmetrics 自動測量光學膜厚儀
Auto SEHORIBA 橢圓偏振光譜儀